طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس (XRF)

طیف سنج فلورسانس پرتو ایکس (XRF) یک دستگاه اشعه ایکس غیرمخرب است که برای تجزیه و تحلیل شیمیایی سنگ‌ها، مواد معدنی، رسوبات و مایعات به کار می‌رود. این دستگاه بر اساس اصول طیفی طول موج-پراکنده عمل می‌کند و شباهت‌هایی با میکروپروب الکترونی (EPMA) دارد، با این تفاوت که XRF توان اندازه‌گیری در مقیاس کوچک (۲–۵ میکرون) را ندارد و بیشتر برای آنالیز نمونه‌های حجیم معدنی استفاده می‌شود.
سادگی کار با نمونه، هزینه پایین آماده‌سازی و پایداری نتایج، XRF را به یکی از روش‌های پرکاربرد برای شناسایی عناصر اصلی و ردیابی عناصر در سنگ‌ها و مواد معدنی تبدیل کرده است.

توضیحات

اصول بنیادین طیف سنجی فلورسانس پرتو ایکس (XRF)

طیف سنجی فلورسانس پرتو ایکس (XRF) یکی از روش‌های تحلیلی پرکاربرد در شیمی تجزیه و علوم زمین است که برای شناسایی و اندازه‌گیری کمی عناصر در مواد مختلف به کار می‌رود. این روش بر اساس تعامل اشعه ایکس با اتم‌های نمونه و تحلیل انرژی پرتوهای ثانویه ساطع‌شده عمل می‌کند.

مبانی و نحوه عملکرد

زمانی که نمونه در معرض تابش اشعه ایکس با انرژی بالا قرار می‌گیرد، الکترون‌های لایه‌های داخلی اتم‌ها تحریک و از مدار خود خارج می‌شوند. در نتیجه، اتم ناپایدار شده و الکترون‌های مدارهای بیرونی برای پر کردن جای خالی جابه‌جا می‌شوند. این انتقال با آزاد شدن انرژی به صورت پرتو ایکس ثانویه (فلورسانس) همراه است.
از آنجا که انرژی پرتوهای ساطع‌شده برای هر عنصر منحصربه‌فرد است، دستگاه XRF می‌تواند با اندازه‌گیری آن‌ها، نوع و مقدار عناصر موجود در نمونه را تعیین کند.

اجزای دستگاه XRF و عملکرد آن

در یک طیف سنج XRF، منبع اشعه ایکس معمولاً از جنس رودیوم (Rh) است، هرچند عناصر دیگری مانند تنگستن (W)، مولیبدن (Mo) و کروم (Cr) نیز بر حسب کاربرد استفاده می‌شوند.
پرتو ایکس اولیه با برخورد به نمونه، بخشی از انرژی خود را جذب کرده و بخشی را به صورت پراکنده بازتاب می‌دهد. تابش جذب‌شده منجر به برانگیختگی اتم‌ها و در نتیجه انتشار پرتوهای فلورسانس خاص هر عنصر می‌شود.

دستگاه XRF با استفاده از آشکارسازهای مختلف، شدت و انرژی این تابش‌ها را اندازه‌گیری می‌کند.

  • آشکارساز جریان گاز متناسب برای طول‌موج‌های بلندتر (عناصر سبک‌تر از Zn) استفاده می‌شود.
  • آشکارساز سوسوزن (Scintillation Detector) برای طول‌موج‌های کوتاه‌تر (عناصر سنگین‌تر از Nb تا I) به کار می‌رود.
    در بسیاری از سیستم‌ها، هر دو نوع آشکارساز برای پوشش طیف گسترده عناصر به‌صورت هم‌زمان استفاده می‌شوند.
    شدت پرتو ساطع‌شده متناسب با غلظت عنصر در نمونه است و برای دستیابی به نتایج دقیق، از مقایسه با استانداردهای معدنی یا شیمیایی شناخته‌شده استفاده می‌شود.

آماده‌سازی نمونه برای آنالیز XRF

تقریباً هر نوع ماده جامد یا مایع را می‌توان با روش XRF تجزیه و تحلیل کرد، به شرطی که آماده‌سازی نمونه به‌درستی انجام شود.
در مورد سنگ‌ها و مواد معدنی، معمولاً چند گرم نمونه مورد نیاز است. نمونه ابتدا خرد شده و سپس آسیاب می‌شود تا به دانه‌هایی با اندازه چند میلی‌متر یا کوچک‌تر برسد.
در مرحله بعد، نمونه‌ها به پودر یکنواخت تبدیل شده و با توجه به نوع آنالیز، به‌صورت پلت فشرده (Pressed Pellet) یا قرص ذوبی (Fusion Bead) آماده می‌شوند.
در این فرایند باید از آلودگی احتمالی نمونه‌ها جلوگیری شود تا صحت نتایج حفظ گردد.

جمع‌آوری داده‌ها و ارزیابی نتایج

نتایج حاصل از XRF معمولاً شامل:

  • طیف اشعه ایکس (نمایش شدت تابش در مقابل انرژی)،
  • جدول داده‌های عددی شامل غلظت عناصر،
  • و نمودارهای ژئوشیمیایی برای تحلیل روندها و مقایسه نمونه‌ها است.

برای اطمینان از کیفیت داده‌ها، عواملی مانند دقت، صحت، حد تشخیص (Detection Limit) و تکرارپذیری نتایج ارزیابی می‌شوند. داده‌های معتبر با استفاده از پایگاه‌های داده استاندارد و طرح‌های کنترل کیفیت ژئوشیمیایی مورد بررسی قرار می‌گیرند.

کاربرد در صنایع

کاربردهای طیف‌سنج فلورسانس پرتو ایکس (XRF)

فلورسانس پرتو ایکس (XRF) در طیف گسترده‌ای از صنایع و تحقیقات علمی کاربرد دارد، از جمله:

  • زمین‌شناسی و مطالعات سنگ‌ها: تحقیق در سنگ‌های آذرین، رسوبی و دگرگونی.
  • خاک و محیط زیست: بررسی ترکیب خاک و تجزیه و تحلیل ذرات معلق در فیلترهای هوا.
  • صنایع معدنی و استخراج: تعیین عیار سنگ معدن و کنترل کیفیت مواد معدنی.
  • ساخت و تولید: تولید سیمان، سرامیک و شیشه.
  • متالورژی: کنترل کیفیت فلزات و آلیاژها.
  • صنعت نفت و پتروشیمی: اندازه‌گیری گوگرد در نفت خام و فرآورده‌های نفتی.
  • مطالعات میدانی: استفاده از XRF قابل‌حمل یا دستی برای بررسی زمین‌شناسی و محیط زیست.

آنالیز شیمیایی با XRF

XRF به ویژه برای تجزیه و تحلیل عناصر اصلی (Si, Ti, Al, Fe, Mn, Mg, Ca, Na, K, P) و عناصر کمیاب (Ba, Ce, Co, Cr, Cu, Ga, La, Nb, Ni, Rb, Sc, Sr, Rh, U, V, Y, Zr, Zn) در نمونه‌های سنگ، رسوبات و مواد معدنی بسیار مناسب است. حد تشخیص عناصر معمولاً در محدوده چند قسمت در میلیون (ppm) قرار دارد.

محدودیت‌ها و آماده‌سازی نمونه

  • XRF معمولاً برای نمونه‌های نسبتاً بزرگ (بیش از ۱ گرم) و مواد قابل پودر شدن و همگن شدن کاربرد دارد.
  • نمونه‌ها باید حاوی ترکیبات شناخته‌شده و قابل مقایسه با استانداردها باشند تا دقت نتایج افزایش یابد.
  • در بسیاری از موارد، نمونه‌ها به پودر نرم تبدیل شده و سپس برای تحلیل، ذوب یا گلس‌سازی می‌شوند. این فرآیند، همگنی نمونه را افزایش داده و امکان اندازه‌گیری دقیق فراوانی عناصر حتی در نمونه‌های پیچیده را فراهم می‌کند.

مزایا و معایب

نقاط قوت XRF

طیف سنج فلورسانس پرتو ایکس (XRF) به ویژه برای تحقیقات و آنالیزهایی که شامل موارد زیر هستند، بسیار مناسب است:

  • تجزیه و تحلیل شیمیایی عناصر اصلی: Si, Ti, Al, Fe, Mn, Mg, Ca, Na, K, P در سنگ‌ها و رسوبات.
  • تجزیه و تحلیل عناصر کمیاب: Ba, Ce, Co, Cr, Cu, Ga, La, Nb, Ni, Rb, Sc, Sr, Rh, U, V, Y, Zr, Zn با حد تشخیص معمولاً بالای ۱ ppm.

XRF به دلیل سهولت کاربری، آماده‌سازی ساده نمونه، سرعت بالا و قابلیت غیرمخرب بودن، یکی از پرکاربردترین روش‌ها در علوم زمین و آنالیز مواد معدنی به شمار می‌رود.


محدودیت‌های XRF

با وجود مزایای متعدد، XRF دارای محدودیت‌هایی نیز هست:

  1. تشخیص عناصر سبک: در عمل، بسیاری از دستگاه‌ها توان اندازه‌گیری دقیق عناصر با عدد اتمی Z<11 را در اکثر مواد طبیعی ندارند.
  2. تشخیص ایزوتوپ‌ها: XRF نمی‌تواند تفاوت بین ایزوتوپ‌های یک عنصر را مشخص کند؛ بنابراین معمولاً همراه با سایر روش‌ها مانند طیف سنجی جرمی (ICP-MS) استفاده می‌شود.
  3. حالت‌های شیمیایی عناصر: این تکنیک قادر به تشخیص یون‌ها یا حالت‌های اکسیداسیون مختلف یک عنصر نیست. برای این منظور، آنالیز مکمل با روش‌هایی مانند تجزیه شیمیایی مرطوب یا طیف سنجی Mossbauer ضروری است.

موجودی انبار

ـعدادی از دستگاه های موجود در انبار و اماده تحویل به شرح زیر میباشد :

  • Thermo Niton XL3 Gold XRF spectrometer
  • Spectro MIDEX XRF spectrometer
  • Oxford Instrument X-MET 8000 XRF spectrometer
  • XOS WDX sulfur Analyzer
  • Pioneer Thin layer XRF Spectrometer

دیدگاهها

هیچ دیدگاهی برای این محصول نوشته نشده است.

اولین نفری باشید که دیدگاهی را ارسال می کنید برای “طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس (XRF)”

نشانی ایمیل شما منتشر نخواهد شد. بخش‌های موردنیاز علامت‌گذاری شده‌اند *

keyboard_arrow_up